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菲希爾X射線測厚儀,FISCHERSCOPE X-RAY XDL230,菲希爾XUL220,FISCHER XULM240。菲希爾FISCHER X射線測厚儀
菲希爾FISCHER X射線XULM240,基于 X 射線熒光光譜技術,X 射線激發(fā)樣品鍍層產生特征熒光,通過檢測熒光強度結合基本參數法(FP 法) 計算鍍層厚度 / 元素成分;全程無損、無需破壞樣品。主打微聚焦測量,特別適合電子接插件、PCB、珠寶鐘表、精密電鍍件等微小結構的檢測。
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230,菲希爾X射線測厚儀,Fischer測厚儀,菲希爾便攜式鍍層測厚儀,菲希爾臺式測厚儀
菲希爾X射線測厚儀XDL230,菲希爾X射線鍍層測厚儀,FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
菲希爾XDLM237 X射線鍍層測厚儀,微聚焦全自動 X 射線熒光鍍層測厚儀(EDXRF),XDLM 系列頂配自動化機型,M 代表Microfocus 微聚焦光管,主打微小觸點、連接器、PCB 精細鍍層無損測厚 + 合金成分分析,支持大批量全自動掃描檢測,測量光束從上往下垂直照射,適配異形、凸起、腔體零件
菲希爾涂層非接觸X射線測厚儀 菲希爾涂層非接觸 X 射線測厚儀基于 X 射線與物質的相互作用原理。當 X 射線照射到被測物體表面時,一部分 X 射線會被涂層吸收和散射,另一部分則會穿透涂層到達基體。通過測量穿透涂層的 X 射線強度,并與已知厚度的標準樣品進行對比,就可以精確計算出涂層的厚度。
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230測厚儀,菲希爾XDL230 是德國Helmut Fischer集團旗下的一款能量色散型X射線熒光(ED-XRF)鍍層測厚及材料分析儀,型號為FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500是德國菲希爾公司 (Helmut Fischer GmbH) 研發(fā)的旗艦級便攜式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀,專為涂層厚度精確測量和材料成分分析設計,被譽為 “市場上精確的手持式 XRF 分析儀“。
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