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菲希爾X射線測厚儀XDL230 FISCHER代理
菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDL230核心技術特點
無標片測量能力:采用菲希爾基本參數法 (FP),多數樣品無需標準片即可直接測量,大幅提升檢測效率
距離補償技術 (DCM):可實現 0-80mm 深度腔體樣品的遠距離對焦測量,解決復雜形狀樣品測量難題
穩定性:長期校準穩定性高,減少頻繁校準需求,降低維護成本
三檔高壓調節:X 射線發生器提供 30kV/40kV/50kV 三檔選擇,適配不同材質與鍍層厚度
靈活準直系統:標配 φ0.3mm 圓形準直器滿足微區檢測需求
比例接收器技術:提高測量精度和重復性,重現性變異系數 < 0.5%
