菲希爾X射線測厚儀XDL230關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

1. X 射線源與探測器

X 射線管：帶鈹窗口的鎢靶 X 射線管，可選微聚焦型

高壓調(diào)節(jié)：30kV、40kV、50kV 三檔可調(diào)，功率 50W

探測器：比例接收器 (Proportional Counter Tube)，確保高計(jì)數(shù)率與快速測量

準(zhǔn)直器：標(biāo)準(zhǔn) φ0.3mm，可選 φ0.1mm、φ0.2mm、0.3×0.05mm 矩形

最小測量光斑：約 0.2mm (使用 φ0.1mm 準(zhǔn)直器時(shí))

濾光片：固定或 3 個(gè)自動(dòng)切換選項(xiàng)

2. 測量能力

元素范圍：氯 (Cl, 17) 至鈾 (U, 92)

同時(shí)測量元素?cái)?shù)：最多 24 種 (需 WinFTM® BASIC 軟件)

鍍層測量標(biāo)準(zhǔn)：符合 ISO 3497 與 ASTM B 568

測量方法：FISCHER 基本參數(shù)法 (FP)，支持無標(biāo)樣測量

穩(wěn)定性：長期穩(wěn)定性優(yōu)異，減少校準(zhǔn)頻率

FISCHER代理核心功能特點(diǎn)

無損檢測：非接觸、無損傷測量，保護(hù)樣品原貌

DCM 技術(shù)：測量距離補(bǔ)償方法，可在 0-80mm 范圍內(nèi)自由選擇測量距離，適配復(fù)雜形狀樣品與腔體內(nèi)部測量

精準(zhǔn)定位：高分辨率彩色 CCD 攝像頭 (40-160 倍放大)+ 激光定位輔助，快速精確對準(zhǔn)測量點(diǎn)

智能分析：內(nèi)置基本參數(shù)法，無需標(biāo)準(zhǔn)片即可分析鍍層系統(tǒng)、固體與液體樣品

多模式測量：支持鍍層厚度測量、材料成分分析、電鍍槽液分析 (需配套附件)

靈活樣品適應(yīng)：可測量平面、曲面、復(fù)雜形狀樣品，適用于各種尺寸工件